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Ⅱ 古い規格（組織の加熱と電流の流れに基づく）
高周波放射（RFR）が組織を加熱する可能性があること、および、例えば５０および６０Ｈｚなどの極低周波（ELF）場が組織に衝撃を与え、さらには組織を損傷または破壊する電流の流れを引き起こす可能性があることは広く認められています。これらの要因のみが現在のばく露基準の基礎となる基礎です。
明らかな熱的変化を引き起こさない強度で生物学的効果を引き起こすEMFばく露、すなわち非熱的メカニズムによる影響は、過去数十年にわたって科学文献に広く報告されてきました。 現在の公衆安全限度は変調を考慮に入れていないため、パルス信号またはパルス変調信号への慢性ばく露が関与し、そのようなばく露の危険にさらされる可能性がある個々の集団が危険にさらされる可能性があります。
